渦流涂層測(cè)厚技術(shù)的基本原理和標(biāo)準(zhǔn)

來源:林上科技   發(fā)布時(shí)間:2020/05/29 08:40  瀏覽:7641
本文主要講述了渦流涂層測(cè)厚技術(shù)的基本原理及方法標(biāo)準(zhǔn)概況,希望能夠幫到您。

一、渦流涂層測(cè)厚技術(shù)的基本原理

渦流涂層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶,采用單片機(jī)技術(shù),精度高、數(shù)字顯示、功耗低、操作簡(jiǎn)便、無需校準(zhǔn)、體積小、重量輕;且具備存儲(chǔ)、低電壓提示等特點(diǎn)。渦流涂層測(cè)厚儀廣泛用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

渦流涂層測(cè)厚儀的基本工作原理是:采用了電渦流原理,在測(cè)頭內(nèi)的線圈鐵芯通電后可以發(fā)生高頻磁場(chǎng),經(jīng)過測(cè)頭與被測(cè)涂層的金屬基材接觸發(fā)生的渦流大小來反映測(cè)頭與基材之間的間隔大小,測(cè)頭離金屬基材越近,渦流越大,越遠(yuǎn)則渦流越小,基于這樣的原理可以找出渦流大小與間隔大小之間的比例關(guān)系,從而求出間隔大小,也就是涂層的厚度。

二、渦流涂層測(cè)厚方法標(biāo)準(zhǔn)概況

在國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4957-85《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量渦流方法》(等效采用國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 2360-1982)中,對(duì)渦流涂層測(cè)厚儀的標(biāo)準(zhǔn)、操作和影響測(cè)量精度的因素及其注意事項(xiàng)作了詳細(xì)地闡述。其中有關(guān)影響測(cè)量精度的因素主要包括:

1.覆蓋層厚度大于25μm時(shí),其誤差與覆蓋層厚度近似成正比。

2.基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān)。

3.渦流涂層測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),即對(duì)靠近試樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的。

4.任何一種涂層測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,只有大于這個(gè)厚度,測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響。

5.試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,這種影響將隨著曲率半徑的減小明顯地增大。

6.基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量精度,粗糙程度增加,影響增大。

7.渦流涂層測(cè)厚儀對(duì)妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,因此測(cè)量前應(yīng)清除測(cè)頭和覆蓋層表面的污物,涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí),應(yīng)使測(cè)頭與測(cè)試表面保持恒壓垂直接觸。

采用單一渦流測(cè)厚法的儀器使用范圍不是很廣,因此市場(chǎng)上逐漸出現(xiàn)了同時(shí)采用兩種原理的涂層測(cè)厚儀,這種儀器同時(shí)采用了渦流測(cè)厚法和磁性測(cè)厚法,可以覆蓋渦流涂層測(cè)厚儀和磁性涂層測(cè)厚儀的測(cè)量范圍。常見的非磁性金屬為鋁,而常見的磁性金屬為鐵,因此這種雙原理的儀器就是我們說的鐵鋁兩用的涂層測(cè)厚儀。常見的鐵鋁兩用測(cè)厚儀有Qnix,TQC和林上涂層測(cè)厚儀,這些儀器的出現(xiàn)也使得涂層的厚度測(cè)量變得更加簡(jiǎn)單,高效。

標(biāo)簽: 涂層測(cè)厚儀
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