色漆和清漆常被用于刷涂在各種底材上起到保護(hù)作用，色漆和清漆硬化后會(huì)在底材表面形成一層干膜，不適當(dāng)?shù)暮穸群苋菀讓?dǎo)致保護(hù)作用過早失效，因此需要使用色漆和清漆測(cè)厚儀器來保證刷涂的厚度達(dá)標(biāo)。下面我們將會(huì)簡(jiǎn)單介紹幾種色漆和清漆測(cè)厚的方法，原理以及應(yīng)用這些方法的測(cè)厚儀器。

一、重量分析法

重量分析法是通過天平測(cè)量出未刷涂漆的底材與已刷涂漆的底材之間的質(zhì)量差，再將這個(gè)質(zhì)量差除以干膜的表面面積和密度來計(jì)算干膜的厚度。這種方法求出的干膜厚度為整個(gè)干膜區(qū)域的平均值，要求在刷漆時(shí)確保底材的背面潔凈，否則容易因?yàn)楸趁嬲`刷到的漆膜影響精度。

二、機(jī)械法

1.可以利用測(cè)微計(jì)或者千分表來測(cè)量干膜的厚度，通過底材與漆膜的總厚度減去底材厚度的差值計(jì)算得出。

2.深度規(guī)或者表面輪廓掃描儀可以直接測(cè)量漆膜的厚度，也就是最終形成的干膜表面與裸露在外的底材表面之間的高度差。

上述四種色漆和清漆測(cè)厚儀器都要求漆膜有足夠的硬度，否則容易因?yàn)閮x器儀表測(cè)量時(shí)對(duì)漆膜產(chǎn)生壓痕而影響讀數(shù)。

三、光學(xué)法

光學(xué)法主要是利用鉆機(jī)或者刀以一定的角度切割涂層得到斜面切口，然后用顯微鏡測(cè)量切割后的斜面投影到底材表面后的距離，再通過三角函數(shù)計(jì)算出漆膜厚度。這種方法適用于涂層和底材之間能夠很好區(qū)分且底材具有被鉆孔或者切割的可能。

四、輻射法

輻射法使用放射性同位素作為輻射源，通過電離輻射與漆膜涂層之間的相互作用來測(cè)定漆膜的厚度。

五、光熱法

光熱法是通過計(jì)算往返的熱波或者超聲波之間的時(shí)間差來測(cè)定漆膜厚度。

六、聲波法

聲波法是通過超聲波脈沖穿過漆膜的時(shí)間來測(cè)定漆膜的厚度。采用該法的色漆和清漆測(cè)厚儀器主要有超聲波測(cè)厚儀。

七、磁性法

1.磁吸力測(cè)厚儀

應(yīng)用磁吸力法的色漆和清漆測(cè)厚儀內(nèi)含有磁鐵，通過測(cè)量磁鐵與底材之間的吸引力來計(jì)算干膜厚度。

2.磁通量測(cè)厚儀

采用磁通量測(cè)厚法的色漆和清漆測(cè)厚儀內(nèi)含有磁鐵，將儀器緊靠著漆膜放置，再以與涂層表面垂直的方向?qū)x器提起并遠(yuǎn)離漆膜，漆膜的厚度可通過移除儀器（磁鐵）所需要的力計(jì)算得到。

3.誘導(dǎo)磁性測(cè)厚儀

誘導(dǎo)磁性測(cè)厚儀內(nèi)部含有電磁體，在接觸到鐵磁性的底材時(shí)儀器內(nèi)的電磁體磁場(chǎng)會(huì)發(fā)生改變，并以此來測(cè)定漆膜的厚度。

4.渦流測(cè)厚儀

渦流測(cè)厚儀內(nèi)部含有電磁體，測(cè)量導(dǎo)電性的底材時(shí)會(huì)產(chǎn)生渦流，通過檢測(cè)渦流引起的磁場(chǎng)變化來測(cè)量漆膜的厚度。

除了上述四種原理的測(cè)厚儀器外，也有一些同時(shí)采用了磁性測(cè)厚法和渦流測(cè)厚法兩種原理的色漆和清漆測(cè)厚儀，比如尼克斯QNix和林上科技的一系列測(cè)厚儀。如上圖所示，這樣的儀器可以在測(cè)量不同底材時(shí)自動(dòng)切換測(cè)量模式，使用更為方便。

上述就是我們梳理的測(cè)量色漆和清漆厚度的全部方法，原理以及一些專業(yè)的色漆和清漆測(cè)厚儀器，如果您需要進(jìn)一步了解它們，請(qǐng)參考國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GBT13452.2-2008色漆和清漆漆膜厚度的測(cè)定標(biāo)準(zhǔn)。